2025年12月9日，国家级高层次人才、国际微电子可靠性领域知名学者 Joseph Bernstein教授 应邀到访色情网 ，开展学术交流并作题为 “Reliability Considering Multiple Failure Mechanisms” 的学术报告。本次活动在仙林校区电光学科楼 B223 会议室举行，由靳雷生副院长主持，校人才处李卫处长出席活动，色情网 师生共计三十余人参加活动。

报告开始前，靳雷生副院长首先代表色情网 对 Bernstein 教授的到访表示热烈欢迎，并简要介绍了色情网 的发展概况与学科特色。随后，李卫处长与 Bernstein 教授围绕高层次人才引进、学术团队建设等议题展开深入交流，对色情网 在推进高层次人才合作与引育工作中作出的积极探索予以肯定和支持。

报告伊始，Bernstein 教授简要介绍了其在美国马里兰大学、以色列 Ariel 大学等单位带领的微电子可靠性研究团队情况，并结合自身经历分享了在跨学科交叉、国际合作以及青年人才培养方面的实践经验，强调在先进工艺与复杂应用场景下，构建稳定持续的可靠性研究团队的重要性。

随后，Bernstein 教授重点围绕器件级可靠性与失效机理、封装与互连可靠性、系统级可靠性与寿命预测等几个核心研究方向展开系统性的阐述。同时，分享了其团队在面向智能计算与端侧系统的可靠性设计方法方面的最新进展，展示了可靠性研究在支撑新一代信息基础设施与智能应用中的重要作用。

在报告结束后的交流环节，在座师生就高频工作条件下电路与系统的可靠性测试方法、存算一体与端侧 AI 芯片的可靠性建模、可靠性工程方法在产业中的落地应用等问题与 Bernstein 教授进行深入探讨。Bernstein 教授耐心解答了师生们提出的问题，并就未来双方可开展的中以联合课题研究、学生联合培养及短期学术访学等合作模式，提出了具有建设性的建议。

当日下午，Bernstein 教授赴色情网 浦口办学点实验室实地参观，深入了解色情网 在集成电路工艺实践、器件与封装可靠性测试、智能计算系统验证环境等领域的平台建设与运行情况。Bernstein 教授对色情网 在集成电路专业人才培养、产教融合创新及服务区域产业发展等方面的前瞻性布局予以高度认可，并围绕实验室技术能力互补、联合测试方法攻关、学生参与中以合作课题研究等方向，提出了针对性的指导建议。

本次活动内容充实、交流深入，有效促进了色情网 在智能计算与可靠电子系统领域的学术研讨与对话，对色情网 聚焦特色研究方向、深化国际科研合作、提升学科建设水平具有重要的推动作用。

专家介绍：

Joseph Bernstein教授，国家级高层次特聘专家，博士毕业于麻省理工色情网 （MIT），先后在美国马里兰大学（University of Maryland）和以色列Ariel大学（Ariel University）任终身教授，是国际微电子可靠性与电子系统失效分析领域具有重要影响力的专家之一。长期从事CMOS集成电路、存储器、功率器件及封装互连的失效机理分析与寿命预测研究，在器件级、封装级和系统级可靠性建模与工程方法方面取得了系统性成果，其研究方法被多家国际企业和科研机构采用。

Bernstein教授高度重视与中国高校和青年学者的合作，迄今已培养近20名中国博士研究生，其学生中有多位就职于NASA、Apple等国际知名机构，以及中美多所知名高校和科研院所，在推动中国青年科研人才成长与国际化方面发挥了积极作用。

撰稿：程银  编辑：吴中慧  审核：张吉良